Samsung Semiconductor Exynos Modem 5400 Pufferüberlauf
| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 10.0 | $0-$5k | 1.44+ |
Zusammenfassung
Eine als sehr kritisch eingestufte Schwachstelle wurde in Samsung Semiconductor Exynos 1080, Exynos 9110, Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300 and Exynos Modem 5400 festgestellt. Es betrifft eine unbekannte Funktion. Die Veränderung resultiert in Pufferüberlauf. Die Identifikation der Schwachstelle findet als CVE-2026-48176 statt. Der Angriff kann remote ausgeführt werden. Es steht kein Exploit zur Verfügung.
Details
Eine Schwachstelle wurde in Samsung Semiconductor Exynos 1080, Exynos 9110, Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300 sowie Exynos Modem 5400 ausgemacht. Sie wurde als sehr kritisch eingestuft. Es geht hierbei um eine unbekannte Funktionalität. Durch Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Klassifiziert wurde die Schwachstelle durch CWE als CWE-119. Auswirken tut sich dies auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:
A memory corruption vulnerability caused by improper validation of messagesDas Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 21.05.2026 mit der eindeutigen Identifikation CVE-2026-48176 gehandelt. Das Ausnutzen gilt als leicht. Umgesetzt werden kann der Angriff über das Netzwerk. Das Ausnutzen erfordert keine spezifische Authentisierung. Technische Details sind nicht bekannt und ein Exploit zur Schwachstelle ist ebenfalls nicht vorhanden. Die Beschaffenheit der Schwachstelle lässt vermuten, dass ein Exploit momentan zu etwa USD $0-$5k gehandelt werden wird (Preisberechnung vom 05.11.2026).
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
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Produkt
Hersteller
Name
Lizenz
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔒VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 10.0VulDB Meta Temp Score: 10.0
VulDB Base Score: 10.0
VulDB Temp Score: 10.0
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja
Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔒
Timeline
21.05.2026 CVE zugewiesen05.11.2026 Advisory veröffentlicht
05.11.2026 VulDB Eintrag erstellt
05.11.2026 VulDB Eintrag letzte Aktualisierung
Quellen
Advisory: semiconductor.samsung.comStatus: Nicht definiert
CNA: samsungsemiconductor
CVE: CVE-2026-48176 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-48176
GCVE (VulDB): GCVE-100-431351
Eintrag
Erstellt: 05.11.2026 04:07Anpassungen: 05.11.2026 04:07 (50)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
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