Samsung Processor and Wearable Processor Exynos jusqu’à 2500 Camera déni de service
| CVSS Score méta-temporaire | Prix actuel de l'exploit (≈) | Score d'intérêt CTI |
|---|---|---|
| 4.2 | $0-$5k | 0.00 |
Résumé
Une vulnérabilité a été trouvé dans Samsung Processor and Wearable Processor Exynos jusqu’à 2500 et classée problématique. La partie affectée est une fonction inconnue du composant Camera. La manipulation avec une valeur d'entrée inconnue mène à une vulnérabilité de classe déni de service. Cette vulnérabilité a été nommée CVE-2025-52517. Il n'y a pas d'exploit disponible.
Détails
Une vulnérabilité qui a été classée problématique a été trouvée dans Samsung Processor and Wearable Processor Exynos jusqu’à 2500. Affecté par cette vulnérabilité est une fonction inconnue du composant Camera. A cause de la manipulation avec une valeur d'entrée inconnue mène à une vulnérabilité de classe déni de service.
La notice d'information est disponible en téléchargement sur semiconductor.samsung.com Cette vulnérabilité est connue comme CVE-2025-52517. L'utilisation est complexe. Les détails techniques sont inconnus et un exploit n'est pas disponible.
Il n'y a aucune information à propos de possibles contremesures connues. Il est suggéré de remplacer l'object infecté par un produit alternatif.
La vulnérabilité est aussi documentée dans la base de données CERT Bund (WID-SEC-2026-0010). If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.
Affecté
- Samsung Exynos
Produit
Fournisseur
Nom
Version
Licence
Site web
- Fournisseur: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vecteur: 🔒VulDB Fiabilité: 🔍
CVSSv3
VulDB Score méta-base: 4.2VulDB Score méta-temporaire: 4.2
VulDB Note de base: 2.6
VulDB Note temporaire: 2.6
VulDB Vecteur: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍
NVD Note de base: 5.9
NVD Vecteur: 🔒
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vecteur | Complexité | Authentification | Confidentialité | Intégrité | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller |
| Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller |
| Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller |
VulDB Note de base: 🔒
VulDB Note temporaire: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍
Exploitation
Classe: Déni de serviceCWE: CWE-404
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Physique: Non
Local: Non
Remote: Oui
Disponibilité: 🔒
Statut: Non défini
EPSS Score: 🔒
EPSS Percentile: 🔒
Prédiction de prix: 🔍
Estimation actuelle des prix: 🔒
| 0-Day | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller |
|---|---|---|---|---|
| Aujourd'hui | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller | Déverrouiller |
Renseignements sur les menaces
Intérêt: 🔍Acteurs actifs: 🔍
Groupes APT actifs: 🔍
Contre-mesures
Recommandé: aucune mesure d'atténuation connueStatut: 🔍
Heure 0 jour: 🔒
Chronologie
17/06/2025 CVE réservé05/01/2026 Avis publié
05/01/2026 Entrée VulDB créée
09/01/2026 Dernière mise à jour VulDB
Sources
Fournisseur: samsung.comBulletin: semiconductor.samsung.com
Statut: Confirmé
CVE: CVE-2025-52517 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-52517
GCVE (VulDB): GCVE-100-339589
CERT Bund: WID-SEC-2026-0010 - Samsung Exynos: Mehrere Schwachstellen
Entrée
Créé: 05/01/2026 20:16Mise à jour: 09/01/2026 16:36
Changements: 05/01/2026 20:16 (53), 06/01/2026 05:38 (7), 09/01/2026 16:36 (11)
Complet: 🔍
Cache ID: 216::103
If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.
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