Samsung Processor and Wearable Processor Exynos jusqu’à 2500 Camera déni de service

CVSS Score méta-temporairePrix actuel de l'exploit (≈)Score d'intérêt CTI
4.2$0-$5k0.00

Résuméinformation

Une vulnérabilité a été trouvé dans Samsung Processor and Wearable Processor Exynos jusqu’à 2500 et classée problématique. La partie affectée est une fonction inconnue du composant Camera. La manipulation avec une valeur d'entrée inconnue mène à une vulnérabilité de classe déni de service. Cette vulnérabilité a été nommée CVE-2025-52517. Il n'y a pas d'exploit disponible.

Détailsinformation

Une vulnérabilité qui a été classée problématique a été trouvée dans Samsung Processor and Wearable Processor Exynos jusqu’à 2500. Affecté par cette vulnérabilité est une fonction inconnue du composant Camera. A cause de la manipulation avec une valeur d'entrée inconnue mène à une vulnérabilité de classe déni de service.

La notice d'information est disponible en téléchargement sur semiconductor.samsung.com Cette vulnérabilité est connue comme CVE-2025-52517. L'utilisation est complexe. Les détails techniques sont inconnus et un exploit n'est pas disponible.

Il n'y a aucune information à propos de possibles contremesures connues. Il est suggéré de remplacer l'object infecté par un produit alternatif.

La vulnérabilité est aussi documentée dans la base de données CERT Bund (WID-SEC-2026-0010). If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.

Affecté

  • Samsung Exynos

Produitinformation

Fournisseur

Nom

Version

Licence

Site web

CPE 2.3information

CPE 2.2information

CVSSv4information

VulDB Vecteur: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍

CVSSv3information

VulDB Score méta-base: 4.2
VulDB Score méta-temporaire: 4.2

VulDB Note de base: 2.6
VulDB Note temporaire: 2.6
VulDB Vecteur: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍

NVD Note de base: 5.9
NVD Vecteur: 🔒

CVSSv2information

AVACAuCIA
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VecteurComplexitéAuthentificationConfidentialitéIntégritéDisponibilité
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VulDB Note de base: 🔒
VulDB Note temporaire: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍

Exploitationinformation

Classe: Déni de service
CWE: CWE-404
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒

Physique: Non
Local: Non
Remote: Oui

Disponibilité: 🔒
Statut: Non défini

EPSS Score: 🔒
EPSS Percentile: 🔒

Prédiction de prix: 🔍
Estimation actuelle des prix: 🔒

0-DayDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller
Aujourd'huiDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller

Renseignements sur les menacesinformation

Intérêt: 🔍
Acteurs actifs: 🔍
Groupes APT actifs: 🔍

Contre-mesuresinformation

Recommandé: aucune mesure d'atténuation connue
Statut: 🔍

Heure 0 jour: 🔒

Chronologieinformation

17/06/2025 CVE réservé
05/01/2026 +202 jours Avis publié
05/01/2026 +0 jours Entrée VulDB créée
09/01/2026 +4 jours Dernière mise à jour VulDB

Sourcesinformation

Fournisseur: samsung.com

Bulletin: semiconductor.samsung.com
Statut: Confirmé

CVE: CVE-2025-52517 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-52517
GCVE (VulDB): GCVE-100-339589
CERT Bund: WID-SEC-2026-0010 - Samsung Exynos: Mehrere Schwachstellen

Entréeinformation

Créé: 05/01/2026 20:16
Mise à jour: 09/01/2026 16:36
Changements: 05/01/2026 20:16 (53), 06/01/2026 05:38 (7), 09/01/2026 16:36 (11)
Complet: 🔍
Cache ID: 216::103

If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.

Discussion

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