Samsung Semiconductor Exynos NPU Driver Excesso de tampão
| CVSS Meta Pontuação Temporária | Preço atual do exploit (≈) | Nota de Interesse CTI |
|---|---|---|
| 9.9 | $0-$5k | 1.08+ |
Sumário
Detectou-se uma vulnerabilidade classificada como muito crítico em Samsung Semiconductor Exynos. Afetado é uma função desconhecida do componente NPU Driver. A manipulação resulta em Excesso de tampão. Esta vulnerabilidade é conhecida como CVE-2026-69005. Existe a possibilidade de executar o ataque de forma remota. Não existe exploit disponível.
Detalhes
Detectou-se uma vulnerabilidade classificada como muito crítico em Samsung Semiconductor Exynos. Afetado é uma função desconhecida do componente NPU Driver. A manipulação resulta em Excesso de tampão. Ao utilizar CWE para declarar o problema, isso direciona para CWE-190. Esta vulnerabilidade foi publicada. O comunicado está disponível para download em semiconductor.samsung.com.
Esta vulnerabilidade é conhecida como CVE-2026-69005. A atribuição do CVE ocorreu em 03/08/2026. Existe a possibilidade de executar o ataque de forma remota. Não há detalhes técnicos disponíveis. A popularidade desta vulnerabilidade está abaixo da média. Não existe exploit disponível. No momento, o preço atual de um exploit pode estar em torno de USD $0-$5k atualmente.
Encontra-se declarado como não definido.
Produto
Fabricante
Nome
Licença
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vetor: 🔒VulDB Fiabilidade: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Pontuação Base: 9.9VulDB Meta Pontuação Temporária: 9.9
VulDB Pontuação Base: 9.9
VulDB Pontuação Temporária: 9.9
VulDB Vetor: 🔒
VulDB Fiabilidade: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vector | Complexidade | Autenticação | Confidencialidade | Integridade | Disponibilidade |
|---|---|---|---|---|---|
| Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
| Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
| Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
VulDB Pontuação Base: 🔒
VulDB Pontuação Temporária: 🔒
VulDB Fiabilidade: 🔍
Exploração
Classe: Excesso de tampãoCWE: CWE-190 / CWE-189
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Físico: Não
Local: Não
Remoto: Sim
Disponibilidade: 🔒
Estado: Não definido
Tendência de preços: 🔍
Estimativa de preço atual: 🔒
| 0-Day | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
|---|---|---|---|---|
| Hoje | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
Inteligência de ameaças
Interesse: 🔍Atores ativos: 🔍
Grupos APT ativos: 🔍
Contramedidas
Recomendação: nenhuma medida conhecidaEstado: 🔍
Tempo 0-dia: 🔒
Linha do tempo
03/08/2026 CVE atribuído05/11/2026 Aviso publicado
05/11/2026 Entrada VulDB criada
05/11/2026 Última atualização da VulDB
Fontes
Aconselhamento: semiconductor.samsung.comEstado: Não definido
CNA: samsungsemiconductor
CVE: CVE-2026-69005 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-69005
GCVE (VulDB): GCVE-100-431340
Entrada
Criado: 05/11/2026 04h04Ajustamentos: 05/11/2026 04h04 (51)
Completo: 🔍
Cache ID: 216::103
Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.
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