Samsung Semiconductor Exynos 1480/Exynos 2400 NPU driver ioctl Excesso de tampão
| CVSS Meta Pontuação Temporária | Preço atual do exploit (≈) | Nota de Interesse CTI |
|---|---|---|
| 4.4 | $0-$5k | 1.80+ |
Sumário
Foi identificada uma vulnerabilidade classificada como problemático em Samsung Semiconductor Exynos 1480 and Exynos 2400. Afectado é a função ioctl do componente NPU driver. A manipulação com uma entrada desconhecida leva a Excesso de tampão.
A vulnerabilidade é identificada como CVE-2026-69025. É necessário acesso local para realizar o ataque. Não há nenhuma exploração disponível.
Detalhes
Foi identificada uma vulnerabilidade classificada como problemático em Samsung Semiconductor Exynos 1480 and Exynos 2400. Afectado é a função ioctl do componente NPU driver. A manipulação com uma entrada desconhecida leva a Excesso de tampão. Usar CWE para declarar o problema leva a CWE-787. A fraqueza foi publicada. O aconselhamento é partilhado para download em semiconductor.samsung.com.
A vulnerabilidade é identificada como CVE-2026-69025. A atribuição do CVE aconteceu em 03/08/2026. É necessário acesso local para realizar o ataque. Os detalhes técnicos estão disponíveis. A vulnerabilidade não é bem conhecida. Não há nenhuma exploração disponível. Atualmente, o preço atual de um exploit pode ser aproximadamente USD $0-$5k no momento.
É declarado como não definido. .
Produto
Fabricante
Nome
Licença
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vetor: 🔒VulDB Fiabilidade: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Pontuação Base: 4.4VulDB Meta Pontuação Temporária: 4.4
VulDB Pontuação Base: 4.4
VulDB Pontuação Temporária: 4.4
VulDB Vetor: 🔒
VulDB Fiabilidade: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vector | Complexidade | Autenticação | Confidencialidade | Integridade | Disponibilidade |
|---|---|---|---|---|---|
| Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
| Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
| Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
VulDB Pontuação Base: 🔒
VulDB Pontuação Temporária: 🔒
VulDB Fiabilidade: 🔍
Exploração
Classe: Excesso de tampãoCWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Físico: Parcial
Local: Sim
Remoto: Não
Disponibilidade: 🔒
Estado: Não definido
Tendência de preços: 🔍
Estimativa de preço atual: 🔒
| 0-Day | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
|---|---|---|---|---|
| Hoje | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
Inteligência de ameaças
Interesse: 🔍Atores ativos: 🔍
Grupos APT ativos: 🔍
Contramedidas
Recomendação: nenhuma medida conhecidaEstado: 🔍
Tempo 0-dia: 🔒
Linha do tempo
03/08/2026 CVE atribuído05/11/2026 Aviso publicado
05/11/2026 Entrada VulDB criada
05/11/2026 Última atualização da VulDB
Fontes
Aconselhamento: semiconductor.samsung.comEstado: Não definido
CNA: samsungsemiconductor
CVE: CVE-2026-69025 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-69025
GCVE (VulDB): GCVE-100-431339
Entrada
Criado: 05/11/2026 04h04Ajustamentos: 05/11/2026 04h04 (52)
Completo: 🔍
Cache ID: 216::103
Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.
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