Samsung Semiconductor Exynos 1480/Exynos 2400 NPU driver ioctl desbordamiento de búfer

CVSS Puntuación meta temporal	Precio actual del exploit (≈)	Puntuación de interés CTI
4.4	$0-$5k	1.80+

Resumeninformación

Una vulnerabilidad clasificada como problemática ha sido encontrada en Samsung Semiconductor Exynos 1480 and Exynos 2400. Se ve afectada una función desconocida del componente NPU driver. A través de la manipulación de un input desconocido se causa una vulnerabilidad de clase desbordamiento de búfer. La vulnerabilidad es identificada como CVE-2026-69025. El ataque debe abordarse localmente. No hay ningún exploit disponible.

Detallesinformación

Una vulnerabilidad fue encontrada en Samsung Semiconductor Exynos 1480 y Exynos 2400 y clasificada como problemática. La función ioctl del componente NPU driver es afectada por esta vulnerabilidad. Por la manipulación de un input desconocido se causa una vulnerabilidad de clase desbordamiento de búfer. Esto tiene repercusión sobre la integridad y disponibilidad.

El advisory puede ser descargado de semiconductor.samsung.com. La vulnerabilidad es identificada como CVE-2026-69025. La explotación se considera fácil. El ataque debe ser hecho local. Detalles técnicos son conocidos, pero no hay ningún exploit público disponible.

No hay información respecto a posibles contramedidas. Se sugiere sustituir el producto con un equivalente.

Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

Productoinformación

Proveedor

• Samsung Semiconductor

Nombre

• Exynos 1480
• Exynos 2400

Licencia

• comercial

CPE 2.3información

• 🔒
• 🔒

CPE 2.2información

• 🔒
• 🔒

CVSSv4información

VulDB Vector: 🔒
VulDB Confiabilidad: 🔍

CVSSv3información

VulDB Puntuación meta base: 4.4
VulDB Puntuación meta temporal: 4.4

VulDB Puntuación base: 4.4
VulDB Puntuación temporal: 4.4
VulDB Vector: 🔒
VulDB Confiabilidad: 🔍

CVSSv2información

AV	AC	Au	C	I	A
💳	💳	💳	💳	💳	💳
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Vector	Complejidad	Autenticación	Confidencialidad	Integridad	Disponibilidad
Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear
Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear
Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear

VulDB Puntuación base: 🔒
VulDB Puntuación temporal: 🔒
VulDB Confiabilidad: 🔍

Explotacióninformación

Clase: Desbordamiento de búfer
CWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒

Físico: En parte
Local: Sí
Remoto: No

Disponibilidad: 🔒
Estado: No está definido
Predicción de precios: 🔍
Estimación del precio actual: 🔒

0-Day	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear
Hoy	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear	Desbloquear

Inteligencia de amenazasinformación

Interés: 🔍
Actores activos: 🔍
Grupos APT activos: 🔍

Contramedidasinformación

Recomendación: no contramedida conocida
Estado: 🔍

Hora de 0 días: 🔒

Línea de tiempoinformación

2026-08-03 CVE asignado
2026-11-05 +94 días Aviso publicado
2026-11-05 +0 días Entrada de VulDB creada
2026-11-05 +0 días Última actualización de VulDB

Fuentesinformación

Aviso: semiconductor.samsung.com
Estado: No está definido

CNA: samsungsemiconductor
CVE: CVE-2026-69025 (🔒)

GCVE (CVE): GCVE-0-2026-69025
GCVE (VulDB): GCVE-100-431339

Artículoinformación

Fecha de creación: 2026-11-05 04:04
Cambios: 2026-11-05 04:04 (52)
Completo: 🔍
Cache ID: 216::103

Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

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