Samsung Semiconductor Exynos NPU Driver Pufferüberlauf
| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 9.9 | $0-$5k | 0.71+ |
Zusammenfassung
Es wurde eine Schwachstelle in Samsung Semiconductor Exynos entdeckt. Sie wurde als sehr kritisch eingestuft. Betroffen ist eine unbekannte Verarbeitung der Komponente NPU Driver. Dank Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Verwundbarkeit wird als CVE-2026-69005 geführt. Es ist möglich, den Angriff aus der Ferne durchzuführen. Es ist kein Exploit verfügbar.
Details
Es wurde eine sehr kritische Schwachstelle in Samsung Semiconductor Exynos - die betroffene Version ist unbekannt - ausgemacht. Es betrifft eine unbekannte Funktion der Komponente NPU Driver. Durch Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-190 vorgenommen. Mit Auswirkungen muss man rechnen für Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. CVE fasst zusammen:
Integer overflow in NPU driver parameter processing due to insufficient bounds checking.Das Advisory kann von semiconductor.samsung.com heruntergeladen werden. Die Verwundbarkeit wird seit dem 03.08.2026 unter CVE-2026-69005 geführt. Sie gilt als leicht auszunutzen. Der Angriff kann über das Netzwerk erfolgen. Es sind weder technische Details noch ein Exploit zur Schwachstelle bekannt. Es muss davon ausgegangen werden, dass ein Exploit zur Zeit etwa USD $0-$5k kostet (Preisberechnung vom 05.11.2026).
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.
Produkt
Hersteller
Name
Lizenz
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔒VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 9.9VulDB Meta Temp Score: 9.9
VulDB Base Score: 9.9
VulDB Temp Score: 9.9
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-190 / CWE-189
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja
Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔒
Timeline
03.08.2026 CVE zugewiesen05.11.2026 Advisory veröffentlicht
05.11.2026 VulDB Eintrag erstellt
05.11.2026 VulDB Eintrag letzte Aktualisierung
Quellen
Advisory: semiconductor.samsung.comStatus: Nicht definiert
CNA: samsungsemiconductor
CVE: CVE-2026-69005 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-69005
GCVE (VulDB): GCVE-100-431340
Eintrag
Erstellt: 05.11.2026 04:04Anpassungen: 05.11.2026 04:04 (51)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.
Bisher keine Kommentare. Sprachen: de + en.
Bitte loggen Sie sich ein, um kommentieren zu können.