Samsung Semiconductor Exynos ENN NeuralNetworks HAL erweiterte Rechte
| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 5.4 | $0-$5k | 0.71+ |
Zusammenfassung
In Samsung Semiconductor Exynos wurde eine Schwachstelle entdeckt. Sie wurde als problematisch eingestuft. Betroffen davon ist ein unbekannter Prozess der Komponente ENN NeuralNetworks HAL. Mit der Manipulation mit unbekannten Daten kann eine erweiterte Rechte-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Identifikation der Schwachstelle findet als CVE-2026-68991 statt. Umgesetzt werden kann der Angriff über das Netzwerk. Es steht kein Exploit zur Verfügung.
Details
In Samsung Semiconductor Exynos - die betroffene Version ist nicht bekannt - wurde eine problematische Schwachstelle ausgemacht. Das betrifft eine unbekannte Funktionalität der Komponente ENN NeuralNetworks HAL. Durch das Beeinflussen mit einer unbekannten Eingabe kann eine erweiterte Rechte-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-20. Auswirkungen hat dies auf Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:
In the Samsung Exynos ENN NeuralNetworks HAL, improper input validation during request processing can cause memory corruption and lead to a denial of service condition.Bereitgestellt wird das Advisory unter semiconductor.samsung.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 03.08.2026 als CVE-2026-68991 geführt. Sie gilt als leicht ausnutzbar. Der Angriff kann über das Netzwerk angegangen werden. Technische Details oder ein Exploit zur Schwachstelle sind nicht verfügbar. Ein Exploit zur Schwachstelle wird momentan etwa USD $0-$5k kosten (Preisberechnung vom 05.11.2026).
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
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Produkt
Hersteller
Name
Lizenz
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔒VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 5.4VulDB Meta Temp Score: 5.4
VulDB Base Score: 5.4
VulDB Temp Score: 5.4
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: Erweiterte RechteCWE: CWE-20
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja
Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔒
Timeline
03.08.2026 CVE zugewiesen05.11.2026 Advisory veröffentlicht
05.11.2026 VulDB Eintrag erstellt
05.11.2026 VulDB Eintrag letzte Aktualisierung
Quellen
Advisory: semiconductor.samsung.comStatus: Nicht definiert
CNA: samsungsemiconductor
CVE: CVE-2026-68991 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-68991
GCVE (VulDB): GCVE-100-431341
Eintrag
Erstellt: 05.11.2026 04:04Anpassungen: 05.11.2026 04:04 (51)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
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