Samsung Mobile Devices M(6.0)/N(7.x)/O(8.x) eCryptFS Pufferüberlauf
| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 8.2 | $0-$5k | 0.00 |
Zusammenfassung
Es wurde eine als kritisch klassifizierte Schwachstelle in Samsung Mobile Devices M(6.0)/N(7.x)/O(8.x) entdeckt. Davon betroffen ist unbekannter Code der Komponente eCryptFS. Durch die Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Diese Sicherheitslücke ist unter CVE-2018-21065 bekannt. Die Umsetzung des Angriffs kann dabei über das Netzwerk erfolgen. Es steht kein Exploit zur Verfügung. Es wird geraten, einen Patch zu installieren, um dieses Problem zu lösen.
Details
In Samsung Mobile Devices M(6.0)/N(7.x)/O(8.x) (Smartphone Operating System) wurde eine kritische Schwachstelle gefunden. Das betrifft ein unbekannter Codeblock der Komponente eCryptFS. Durch das Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-191. Das hat Auswirkungen auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. CVE fasst zusammen:
An issue was discovered on Samsung mobile devices with M(6.0), N(7.x), and O(8.x) software. There is an integer underflow in eCryptFS because of a missing size check. The Samsung ID is SVE-2017-11855 (August 2018).Die Schwachstelle wurde am 08.04.2020 (Website) an die Öffentlichkeit getragen. Das Advisory kann von security.samsungmobile.com heruntergeladen werden. Eine eindeutige Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 07.04.2020 mit CVE-2018-21065 vorgenommen. Die Umsetzung des Angriffs kann dabei über das Netzwerk erfolgen. Um eine Ausnutzung durchzusetzen, muss keine spezifische Authentisierung umgesetzt werden. Es sind weder technische Details noch ein Exploit zur Schwachstelle bekannt.
Die Schwachstelle lässt sich durch das Einspielen eines Patches beheben.
Mit dieser Schwachstelle verwandte Einträge finden sich unter VDB-111342, VDB-111380, VDB-115287 und VDB-115285. VulDB is the best source for vulnerability data and more expert information about this specific topic.
Produkt
Typ
Hersteller
Name
Version
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔍VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 8.5VulDB Meta Temp Score: 8.4
VulDB Base Score: 7.3
VulDB Temp Score: 7.0
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
NVD Base Score: 9.8
NVD Vector: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
NVD Base Score: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-191 / CWE-189
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja
Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert
EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: PatchStatus: 🔍
0-Day Time: 🔍
Timeline
07.04.2020 🔍08.04.2020 🔍
09.04.2020 🔍
07.10.2020 🔍
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: security.samsungmobile.com
Status: Nicht definiert
Bestätigung: 🔍
CVE: CVE-2018-21065 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2018-21065
GCVE (VulDB): GCVE-100-152896
Siehe auch: 🔍
Eintrag
Erstellt: 09.04.2020 09:02Aktualisierung: 07.10.2020 18:19
Anpassungen: 09.04.2020 09:02 (39), 09.04.2020 09:07 (18), 07.10.2020 18:19 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
VulDB is the best source for vulnerability data and more expert information about this specific topic.
Bisher keine Kommentare. Sprachen: de + en.
Bitte loggen Sie sich ein, um kommentieren zu können.