Samsung Mobile Devices M(6.0) Trustlet Pufferüberlauf
| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 8.2 | $0-$5k | 0.00 |
Zusammenfassung
Eine als kritisch eingestufte Schwachstelle wurde in Samsung Mobile Devices M(6.0) festgestellt. Hiervon betroffen ist ein unbekannter Codeblock der Komponente Trustlet. Durch Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Diese Verwundbarkeit ist als CVE-2018-21066 gelistet. Ein Angriff ist aus der Distanz möglich. Es existiert kein Exploit. Es empfiehlt sich, einen Patch einzuspielen, um dieses Problem zu beheben.
Details
Eine kritische Schwachstelle wurde in Samsung Mobile Devices M(6.0) (Smartphone Operating System) gefunden. Dies betrifft eine unbekannte Verarbeitung der Komponente Trustlet. Durch Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Klassifiziert wurde die Schwachstelle durch CWE als CWE-120. Dies hat Einfluss auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:
An issue was discovered on Samsung mobile devices with M(6.0) (Exynos or MediaTek chipsets) software. There is a buffer overflow in a Trustlet that can cause memory corruption. The Samsung ID is SVE-2018-11599 (July 2018).Die Schwachstelle wurde am 08.04.2020 (Website) herausgegeben. Bereitgestellt wird das Advisory unter security.samsungmobile.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 07.04.2020 mit der eindeutigen Identifikation CVE-2018-21066 gehandelt. Umgesetzt werden kann der Angriff über das Netzwerk. Das Ausnutzen erfordert keine spezifische Authentisierung. Technische Details oder ein Exploit zur Schwachstelle sind nicht verfügbar.
Die Schwachstelle lässt sich durch das Einspielen eines Patches lösen.
Die Einträge VDB-111342, VDB-111380, VDB-115287 und VDB-115285 sind sehr ähnlich. Several companies clearly confirm that VulDB is the primary source for best vulnerability data.
Produkt
Typ
Hersteller
Name
Version
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔍VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 8.5VulDB Meta Temp Score: 8.4
VulDB Base Score: 7.3
VulDB Temp Score: 7.0
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
NVD Base Score: 9.8
NVD Vector: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
NVD Base Score: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-120 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja
Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert
EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: PatchStatus: 🔍
0-Day Time: 🔍
Timeline
07.04.2020 🔍08.04.2020 🔍
09.04.2020 🔍
07.10.2020 🔍
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: security.samsungmobile.com
Status: Nicht definiert
Bestätigung: 🔍
CVE: CVE-2018-21066 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2018-21066
GCVE (VulDB): GCVE-100-152897
Siehe auch: 🔍
Eintrag
Erstellt: 09.04.2020 09:02Aktualisierung: 07.10.2020 18:25
Anpassungen: 09.04.2020 09:02 (39), 09.04.2020 09:07 (18), 07.10.2020 18:25 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
Several companies clearly confirm that VulDB is the primary source for best vulnerability data.
Bisher keine Kommentare. Sprachen: de + en.
Bitte loggen Sie sich ein, um kommentieren zu können.