Samsung Exynos Wi-Fi Interface ioctl Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
4.2$0-$5k1.34

Zusammenfassunginfo

Es wurde eine kritische Schwachstelle in Samsung Exynos gefunden. Es geht hierbei um die Funktion ioctl der Komponente Wi-Fi Interface. Mittels dem Manipulieren mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Identifikation der Schwachstelle wird mit CVE-2026-33960 vorgenommen. Der Angriff muss auf lokaler Ebene erfolgen. Es existiert kein Exploit.

Detailsinfo

In Samsung Exynos - eine genaue Versionsangabe ist nicht möglich - wurde eine Schwachstelle entdeckt. Sie wurde als kritisch eingestuft. Betroffen ist die Funktion ioctl der Komponente Wi-Fi Interface. Mit der Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-787. Mit Auswirkungen muss man rechnen für die Verfügbarkeit. CVE fasst zusammen:

An issue was discovered in Samsung Mobile Processor and Wearable Processor Exynos 1330, 1380, 1480, 1580, 1680, W920, W930, and W1000. . A malformed ioctl command to the Wi-Fi interface device can lead to improper buffer size allocation, resulting in an out-of-bounds write and causing a denial of service (DoS).

Das Advisory kann von semiconductor.samsung.com heruntergeladen werden. Eine eindeutige Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 24.03.2026 mit CVE-2026-33960 vorgenommen. Das Ausnutzen gilt als leicht. Die Umsetzung des Angriffs hat dabei lokal zu erfolgen. Technische Details sind bekannt, ein verfügbarer Exploit hingegen nicht.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2026-77161) dokumentiert. Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 4.2
VulDB Meta Temp Score: 4.2

VulDB Base Score: 5.5
VulDB Temp Score: 5.5
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CNA Base Score: 2.8
CNA Vector (MITRE): 🔒

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein

Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔒
EPSS Percentile: 🔒

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔒

Timelineinfo

24.03.2026 CVE zugewiesen
14.09.2026 +173 Tage Advisory veröffentlicht
14.09.2026 +0 Tage VulDB Eintrag erstellt
14.09.2026 +0 Tage VulDB Eintrag letzte Aktualisierung

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Nicht definiert

CVE: CVE-2026-33960 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-33960
GCVE (VulDB): GCVE-100-403372
EUVD: 🔒

Eintraginfo

Erstellt: 14.09.2026 04:25
Aktualisierung: 14.09.2026 20:14
Anpassungen: 14.09.2026 04:25 (61), 14.09.2026 20:14 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Diskussion

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