Samsung Exynos Wi-Fi Interface ioctl buffer overflow

CVSS Score méta-temporairePrix actuel de l'exploit (≈)Score d'intérêt CTI
4.2$0-$5k0.53

Résuméinformation

On a identifié une vulnérabilité de type critique dans Samsung Exynos. L'élément concerné est la fonction ioctl du composant Wi-Fi Interface. L’exploitation entraîne buffer overflow. Cette vulnérabilité porte l’identifiant CVE-2026-33960. L'attaque doit être réalisée sur le système local. Il n'y a pas d'exploit disponible.

Détailsinformation

Une vulnérabilité qui a été classée critique a été trouvée dans Samsung Exynos. Affecté est la fonction ioctl du composant Wi-Fi Interface. La manipulation avec une valeur d'entrée inconnue mène à une vulnérabilité de classe buffer overflow.

La notice d'information est disponible en téléchargement sur semiconductor.samsung.com Cette vulnérabilité est connue comme CVE-2026-33960. Elle est facile à utiliser. L'attaque doit être locale. Les détails technniques sont connus, mais aucun exploite n'est disponible.

Il n'y a aucune information à propos de possibles contremesures connues. Il est suggéré de remplacer l'object infecté par un produit alternatif.

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Produitinformation

Fournisseur

Nom

Licence

Site web

CPE 2.3information

CPE 2.2information

CVSSv4information

VulDB Vecteur: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍

CVSSv3information

VulDB Score méta-base: 4.2
VulDB Score méta-temporaire: 4.2

VulDB Note de base: 5.5
VulDB Note temporaire: 5.5
VulDB Vecteur: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍

CNA Note de base: 2.8
CNA Vecteur (MITRE): 🔒

CVSSv2information

AVACAuCIA
💳💳💳💳💳💳
💳💳💳💳💳💳
💳💳💳💳💳💳
VecteurComplexitéAuthentificationConfidentialitéIntégritéDisponibilité
DéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller
DéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller
DéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller

VulDB Note de base: 🔒
VulDB Note temporaire: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍

Exploitationinformation

Classe: Buffer overflow
CWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒

Physique: Partiellement
Local: Oui
Remote: Non

Disponibilité: 🔒
Statut: Non défini
Prédiction de prix: 🔍
Estimation actuelle des prix: 🔒

0-DayDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller
Aujourd'huiDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller

Renseignements sur les menacesinformation

Intérêt: 🔍
Acteurs actifs: 🔍
Groupes APT actifs: 🔍

Contre-mesuresinformation

Recommandé: aucune mesure d'atténuation connue
Statut: 🔍

Heure 0 jour: 🔒

Chronologieinformation

24/03/2026 CVE réservé
14/09/2026 +173 jours Avis publié
14/09/2026 +0 jours Entrée VulDB créée
14/09/2026 +0 jours Dernière mise à jour VulDB

Sourcesinformation

Fournisseur: samsung.com

Bulletin: semiconductor.samsung.com
Statut: Non défini

CVE: CVE-2026-33960 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-33960
GCVE (VulDB): GCVE-100-403372

Entréeinformation

Créé: 14/09/2026 04:25
Changements: 14/09/2026 04:25 (61)
Complet: 🔍
Cache ID: 216::103

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Discussion

Aucun commentaire pour l'instant. Langues: fr + it + en.

Veuillez vous connecter pour commenter.

◂ PrécédentAperçuSuivant ▸

Are you interested in using VulDB?

Download the whitepaper to learn more about our service!