Samsung Exynos Wi-Fi Interface ioctl desbordamiento de búfer

CVSS Puntuación meta temporalPrecio actual del exploit (≈)Puntuación de interés CTI
4.2$0-$5k0.53

Resumeninformación

Se ha detectado una vulnerabilidad clasificada como crítica en Samsung Exynos. Resulta afectada una función desconocida dentro del componente Wi-Fi Interface. La alteración resulta en desbordamiento de búfer. Esta vulnerabilidad se registra como CVE-2026-33960. El ataque requiere un enfoque local. No existe ningún exploit disponible.

Detallesinformación

Una vulnerabilidad clasificada como crítica ha sido encontrada en Samsung Exynos. La función ioctl del componente Wi-Fi Interface es afectada por esta vulnerabilidad. Mediante la manipulación de un input desconocido se causa una vulnerabilidad de clase desbordamiento de búfer. Esto tiene repercusión sobre la la disponibilidad.

El advisory puede ser descargado de semiconductor.samsung.com. La vulnerabilidad es identificada como CVE-2026-33960. Se considera fácil de explotar. El ataque sólo se debe hacer local. Hay detalles técnicos conocidos, pero no se dispone de un exploit.

No hay información respecto a posibles contramedidas. Se sugiere sustituir el producto con un equivalente.

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Productoinformación

Proveedor

Nombre

Licencia

Sitio web

CPE 2.3información

CPE 2.2información

CVSSv4información

VulDB Vector: 🔒
VulDB Confiabilidad: 🔍

CVSSv3información

VulDB Puntuación meta base: 4.2
VulDB Puntuación meta temporal: 4.2

VulDB Puntuación base: 5.5
VulDB Puntuación temporal: 5.5
VulDB Vector: 🔒
VulDB Confiabilidad: 🔍

CNA Puntuación base: 2.8
CNA Vector (MITRE): 🔒

CVSSv2información

AVACAuCIA
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VectorComplejidadAutenticaciónConfidencialidadIntegridadDisponibilidad
DesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear
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DesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear

VulDB Puntuación base: 🔒
VulDB Puntuación temporal: 🔒
VulDB Confiabilidad: 🔍

Explotacióninformación

Clase: Desbordamiento de búfer
CWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒

Físico: En parte
Local: Sí
Remoto: No

Disponibilidad: 🔒
Estado: No está definido
Predicción de precios: 🔍
Estimación del precio actual: 🔒

0-DayDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear
HoyDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear

Inteligencia de amenazasinformación

Interés: 🔍
Actores activos: 🔍
Grupos APT activos: 🔍

Contramedidasinformación

Recomendación: no contramedida conocida
Estado: 🔍

Hora de 0 días: 🔒

Línea de tiempoinformación

2026-03-24 CVE asignado
2026-09-14 +173 días Aviso publicado
2026-09-14 +0 días Entrada de VulDB creada
2026-09-14 +0 días Última actualización de VulDB

Fuentesinformación

Proveedor: samsung.com

Aviso: semiconductor.samsung.com
Estado: No está definido

CVE: CVE-2026-33960 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-33960
GCVE (VulDB): GCVE-100-403372

Artículoinformación

Fecha de creación: 2026-09-14 04:25
Cambios: 2026-09-14 04:25 (61)
Completo: 🔍
Cache ID: 216::103

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Discusión

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