Samsung Semiconductor Exynos 1280/Exynos 1380/Exynos 2200 NPU Driver ioctl Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
8.8$0-$5k0.36+

Zusammenfassunginfo

In Samsung Semiconductor Exynos 1280, Exynos 1380 and Exynos 2200 wurde eine sehr kritische Schwachstelle gefunden. Dies betrifft die Funktion ioctl der Komponente NPU Driver. Durch Beeinflussen mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Diese Schwachstelle wird als CVE-2026-68985 gehandelt. Der Angriff muss lokal erfolgen. Es ist kein Exploit verfügbar.

Detailsinfo

In Samsung Semiconductor Exynos 1280, Exynos 1380 sowie Exynos 2200 - die betroffene Version ist nicht bekannt - wurde eine sehr kritische Schwachstelle entdeckt. Es geht um die Funktion ioctl der Komponente NPU Driver. Durch die Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-787. Auswirken tut sich dies auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:

In the Samsung Exynos NPU driver, improper validation of user input in the ioctl handler can lead to an out-of-bounds write, which causes a denial of service.

Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 03.08.2026 als CVE-2026-68985 geführt. Sie ist leicht ausnutzbar. Der Angriff muss lokal angegangen werden. Technische Details sind bekannt, ein verfügbarer Exploit hingegen nicht. Die Beschaffenheit der Schwachstelle lässt vermuten, dass ein Exploit momentan zu etwa USD $0-$5k gehandelt werden wird (Preisberechnung vom 05.11.2026).

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

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Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 8.8
VulDB Meta Temp Score: 8.8

VulDB Base Score: 8.8
VulDB Temp Score: 8.8
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein

Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔒

Timelineinfo

03.08.2026 CVE zugewiesen
05.11.2026 +94 Tage Advisory veröffentlicht
05.11.2026 +0 Tage VulDB Eintrag erstellt
05.11.2026 +0 Tage VulDB Eintrag letzte Aktualisierung

Quelleninfo

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Nicht definiert

CNA: samsungsemiconductor
CVE: CVE-2026-68985 (🔒)

GCVE (CVE): GCVE-0-2026-68985
GCVE (VulDB): GCVE-100-431335

Eintraginfo

Erstellt: 05.11.2026 04:03
Anpassungen: 05.11.2026 04:03 (52)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

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