Samsung Semiconductor Exynos 1280/Exynos 1380/Exynos 2200 NPU Driver ioctl desbordamiento de búfer
| CVSS Puntuación meta temporal | Precio actual del exploit (≈) | Puntuación de interés CTI |
|---|---|---|
| 8.8 | $0-$5k | 0.36+ |
Resumen
Una vulnerabilidad fue encontrada en Samsung Semiconductor Exynos 1280, Exynos 1380 and Exynos 2200 y clasificada como extremadamente crítica. Resulta afectada una función desconocida dentro del componente NPU Driver. Por la manipulación de un input desconocido se causa una vulnerabilidad de clase desbordamiento de búfer. Esta vulnerabilidad se conoce como CVE-2026-68985. El ataque debe ser iniciado local. No hay ningún exploit disponible.
Detalles
Una vulnerabilidad fue encontrada en Samsung Semiconductor Exynos 1280, Exynos 1380 y Exynos 2200 y clasificada como extremadamente crítica. La función ioctl del componente NPU Driver es afectada por esta vulnerabilidad. Mediante la manipulación de un input desconocido se causa una vulnerabilidad de clase desbordamiento de búfer. Esto tiene repercusión sobre la confidencialidad, integridad y disponibilidad.
El advisory puede ser descargado de semiconductor.samsung.com. La vulnerabilidad es identificada como CVE-2026-68985. La explotación se considera fácil. El ataque sólo se debe hacer local. Detalles técnicos son conocidos, pero no hay ningún exploit público disponible.
No hay información respecto a posibles contramedidas. Se sugiere sustituir el producto con un equivalente.
Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.
Producto
Proveedor
Nombre
Licencia
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔒VulDB Confiabilidad: 🔍
CVSSv3
VulDB Puntuación meta base: 8.8VulDB Puntuación meta temporal: 8.8
VulDB Puntuación base: 8.8
VulDB Puntuación temporal: 8.8
VulDB Vector: 🔒
VulDB Confiabilidad: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vector | Complejidad | Autenticación | Confidencialidad | Integridad | Disponibilidad |
|---|---|---|---|---|---|
| Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
| Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
| Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
VulDB Puntuación base: 🔒
VulDB Puntuación temporal: 🔒
VulDB Confiabilidad: 🔍
Explotación
Clase: Desbordamiento de búferCWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Físico: En parte
Local: Sí
Remoto: No
Disponibilidad: 🔒
Estado: No está definido
Predicción de precios: 🔍
Estimación del precio actual: 🔒
| 0-Day | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
|---|---|---|---|---|
| Hoy | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear | Desbloquear |
Inteligencia de amenazas
Interés: 🔍Actores activos: 🔍
Grupos APT activos: 🔍
Contramedidas
Recomendación: no contramedida conocidaEstado: 🔍
Hora de 0 días: 🔒
Línea de tiempo
2026-08-03 CVE asignado2026-11-05 Aviso publicado
2026-11-05 Entrada de VulDB creada
2026-11-05 Última actualización de VulDB
Fuentes
Aviso: semiconductor.samsung.comEstado: No está definido
CNA: samsungsemiconductor
CVE: CVE-2026-68985 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-68985
GCVE (VulDB): GCVE-100-431335
Artículo
Fecha de creación: 2026-11-05 04:03Cambios: 2026-11-05 04:03 (52)
Completo: 🔍
Cache ID: 216::103
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